發射率不是一個材料常數，它描述的是這個表面在這一狀態下、在這一波段、從這一方向看過去的輻射能力。查表只能給出區間，給不出某一個測點的確定值：把表里的數直接填進儀器，等于把別人的表面當成了自己的表面。
材料的名字只是索引，真正決定數值的是表面那幾微米發生了什么：有沒有氧化層、粗糙度多少、有沒有漆膜或污穢、涂層里含不含金屬粉。同樣是鋁，拋光面與強氧化面能差出三四倍。同樣是鑄鐵，加工面與完全生銹面能差出一倍多，表上給的那一個數，是某一批試樣在某一狀態下的結果。
紅外測溫的波段也在里面起作用。GB/T 19870-2018 在基本參數那一章給出，熱像儀宜工作在長波范圍內，即 7.5 μm 到 14 μm。同一材料在短波與長波上的發射率并不相等，抄表時若不看清表頭標注的波段，數值會對不上。北京康高特（KGT）陽明紅外熱像儀的波長范圍正是 7.5 μm 到 14 μm，與這一條一致。
方向同樣算得進去。非金屬在法線附近的值比較穩，偏離法線幾十度以后會往下掉：金屬的變化更復雜，總反射里鏡面成分占的比例隨角度上升。現場把入射角控制在三十度以內，一半是為了避開反射，一半是為了讓發射率別偏離表值。
金屬與非金屬的分野在自由電子。金屬內部有大量可自由遷移的電子，入射的紅外電磁場被它們高效地反射回去，自身的熱輻射出不去，于是發射率低、反射率高。非金屬沒有這層自由電子，晶格振動與分子振動能把熱能有效地轉成輻射發出去，發射率自然高。
這個差別解釋了表上那條明顯的斷層：拋光鋁 0.09、黃銅鏡面 0.03 這類亮金屬面處在底下一檔，電瓷 0.90 到 0.92、橡膠 0.95、冰 0.98 這類非金屬擠在上面一檔。中間那些數，幾乎都是金屬表面長了氧化層、涂層或銹層之后的產物。
金屬件在大氣里放久了，表面會長出一層氧化物。這層氧化物的厚度只要到微米量級，對長波紅外已經不再透明，儀器看到的是這層外套而不是底下的金屬。于是發射率從金屬檔跳到非金屬檔。
厚度決定跳多少。薄而致密的氧化膜只把值抬上去一點點，厚而疏松的銹層會把值抬到 0.8 以上。DL/T 664-2025 附錄 D 里同一族金屬的幾個數，排下來正是不同氧化程度的序列：輕度氧化鋁取 0.10 到 0.20，強氧化鋁取 0.30 到 0.40。拋光鑄鐵是 0.21，加工鑄鐵是 0.44，完全生銹鑄鐵到 0.95。
查表的作用是把初值定在正確量級，不是把終值定死。可行的順序是先按材料與狀態在表里取一個起點，再用現場手段把它校到這一個測點上，末了把這個數、取得它的方法、當時的背景溫度一并記進檢測記錄。只查不校，讀數只剩下參考意義。
熱像儀收到的是被測目標方向上全部輻射的總和，至少有三處來源。頭一處是目標表面自己發出來的，權重是發射率 ε，而第二處是目標表面把周圍環境反射進來的，權重是一減 ε。第三處是目標表面與儀器之間那段大氣自己發出來的，權重和透過率有關。近距離作業下第三處常常可以忽略，前兩處的權重卻始終相加為一。
把這三處寫成式子，得到輻射測溫的基本關系：儀器收到的波段輻射亮度，等于 ε 乘目標溫度下的黑體波段輻射亮度，加上一減 ε 乘背景溫度下的黑體波段輻射亮度，再加上大氣路徑那一項。溫度不是量出來的，是從這個式子反解出來的。
JJF 1187-2008《熱像儀校準規范》在概述那一章給出原話：熱像儀可將物體表面的熱輻射轉換為可見圖像，并通過發射率、反射率、透射率三項的修正，準確測量物體的表面溫度和表面溫度分布。這句話把三個修正量并列寫出來，說明它們不是可選項，而是算出溫度之前必須填上的三個空。
儀器拿到的是一個輻射亮度值，要靠人給的 ε 與背景溫度把它還原成溫度。填進儀器的 ε 與背景溫度若與真實情況不符，反解出來的溫度必然偏離，而且偏離的方向是確定的，不是隨機的。
發射率、背景溫度、距離，三樣在儀器里都要給。現場常見的疏漏是把后兩樣留成默認值，背景溫度沿用上一次的環境溫度，距離干脆不填。這兩項在低發射率目標上的影響，比發射率本身還大。
把反解式子寫出來，方向一目了然。儀器按設定值 ε設 去解，得到的目標溫度 T讀 滿足：目標溫度下的輻射亮度，等于 ε真 除以 ε設 乘真實溫度下的輻射亮度，加上一減這個比值乘背景溫度下的輻射亮度。
比值小于一時，意味著設定的發射率高于真實值，讀數會被拉向背景溫度。背景通常比被測設備冷，于是讀數偏低。反過來，設定的發射率低于真實值，讀數偏高。方向只有這兩種，沒有第三種。
取真值 80 ℃、真實發射率 0.09、背景 25 ℃ 算一遍。設成 0.95，讀數 31.4 ℃，偏低 48.6 ℃。設成 0.60，讀數 35.0 ℃，偏低 45.0 ℃。設成 0.30，讀數 44.2 ℃，偏低 35.8 ℃。設對 0.09，讀數回到 80.0 ℃。
近五十攝氏度的偏低不是筆誤。拋光鋁在長波紅外里的發射率原本只有 0.09 上下，按 0.95 去解，等于把九成的權重錯記成自身發射，剩下那一成還要按高發射率去攤，讀數自然塌到背景附近。
現場常犯的是把發射率設高，儀器默認 0.95，人不去動它，遇到金屬等于把值設高了。于是所有金屬測點的讀數一致偏低，偏低的方向相同、幅度隨溫度上升。這類偏差不會互相抵消，只會讓一批熱點一起被判成正常。
設定值比真實值高 0.05，在不同發射率的表面上后果完全不同，真值 80 ℃、背景 25 ℃ 下算得下面一列。真實 0.90 設成 0.95，讀數偏低 2.4 ℃。真實 0.70 設成 0.75，偏低 3.0 ℃。真實 0.50 設成 0.55，偏低 4.2 ℃。真實 0.30 設成 0.35，偏低 6.6 ℃。真實 0.20 設成 0.25，偏低 9.3 ℃。
同一個零點零五的差值，從 2.4 ℃ 變成 9.3 ℃，接近四倍，發射率越低的表面，同樣的偏差越傷。
起作用的是相對偏差，即 Δε 除以 ε，不是那零點零五本身。零點零五放在 0.90 上是百分之五點六，放在 0.20 上是百分之二十五，差了四倍多，與上面那一列讀數的比例吻合。
這條結論直接改寫操作習慣：高發射率表面上，發射率那一檔可以粗一點。低發射率表面上，小數點后兩位都要較真。
不必每次去積分普朗克公式，波段內輻射亮度隨溫度大致按 T 的 n 次方變化，n 等于輻射亮度對溫度的雙對數斜率。按 7.5 μm 到 14 μm 波段算，300 K 附近 n 約 4.7，350 K 附近約 4.1。有了它，輻射亮度上的相對偏差換算成溫度偏差，得 ΔT 約等于 T 除以 n 再乘 ΔL 除以 L。
舉例：350 K 上輻射亮度差百分之十，按 n 取 4.1 算，溫度偏差約 350 除以 4.1 乘 0.10，得 8.5 ℃，這個數與逐點積分的結果在同一量級，夠用來現場判斷。
北京康高特（KGT）陽明紅外熱像儀的測溫精度標為 ±2 ℃ 或 ±2% 讀數，取兩者中較大的。發射率這一項在氧化金屬上輕易到十幾攝氏度，在拋光面上能到近五十攝氏度，比儀器那一項高出一個數量級。把兩者加在一起評論測得準不準，是拿小數去掩蓋大數。
仍取真實發射率 0.70、設成 0.95、背景 25 ℃，只改真實溫度。真實 30 ℃ 時讀數偏低 1.3 ℃。50 ℃ 時偏低 6.1 ℃。80 ℃ 時偏低 12.4 ℃。120 ℃ 時偏低 19.9 ℃。160 ℃ 時偏低 27.0 ℃。
同一處設置錯誤，在三十攝氏度上幾乎看不出來，在一百六十攝氏度上能差出二十七攝氏度。發射率偏差的后果隨被測溫度上升而放大。
反解式子中被拉向背景的那一塊，權重是真實溫度與背景溫度下輻射亮度之差。溫度越高，這個差越大，同樣比例的誤設帶走的量也越多，低溫測點上那點偏差看不出來，不是因為它不存在，是因為基數小。
過熱缺陷恰恰長在高溫區。現場若在低溫點上隨便設一個值、在高溫點上沿用同一個值，出事的往往是后者：讀數被壓下來，把本該判危急的點壓進一般那一檔。
式子里的第二項，權重是一減 ε。發射率 0.95 的絕緣表面只反射 0.05 的環境輻射，這一項幾乎可以忽略。發射率 0.30 的鋁外殼反射 0.70，環境輻射成了信號的主要成分，發射率越低，背景溫度這一項越占主導。
取一個發射率 0.30 的鋁制外殼，真實溫度 60 ℃，它真正反射的背景是旁邊的變壓器本體與曬熱的墻面，折算下來約 45 ℃。此時把儀器里的背景溫度填成 20 ℃，讀數 100.4 ℃，偏高 40.4 ℃。填成 25 ℃，讀數 93.8 ℃，偏高 33.8 ℃。填成 35 ℃，讀數 78.6 ℃，偏高 18.6 ℃。填成 45 ℃，讀數 60.0 ℃，偏差歸零。填成 55 ℃，讀數 36.3 ℃，偏低 23.7 ℃。
發射率設對了，只是背景填錯，仍能錯出四十攝氏度，這一項在低發射率目標上的殺傷力不低于發射率本身。
測點周圍往往不空。變壓器本體、曬熱的墻體、旁邊帶電設備的散熱面，都會成為反射源。儀器里那個背景溫度問的是目標表面反射的是誰的溫度，不是當日氣溫多少。兩者在戶外空曠處接近，在設備密集的間隔里能差出二三十攝氏度。
常規做法是在測點旁放一塊皺成一團的鋁箔，把它調到與被測面相同的取向，用高發射率設置讀出它的表觀溫度，這個讀數便是被測面反射的背景溫度。鋁箔皺起來是為了把鏡面反射打散，讓讀到的更接近漫反射背景，這一步花不了兩分鐘，換掉的是上面那四十攝氏度。
DL/T 664-2025 在附錄 D 以資料性附錄的形式列出常用材料輻射率的參考值，表題用的正是這個名稱。資料性意味著它給的是工程參考，不是判定依據，儀器設置與報告記錄都不宜把它當成規定值引用。表上每個數都帶著兩個附加欄，一欄是取得該值時的溫度，一欄是表面狀態。
規程在這個附錄里用的詞是輻射率，紅外測溫習慣說發射率，兩者指的是同一個量綱為一的量。
拋光鋁或鋁箔取 0.09，測量溫度 100 ℃，輕度氧化鋁取 0.10 到 0.20，覆蓋 25 ℃ 到 600 ℃。強氧化鋁取 0.30 到 0.40，覆蓋 25 ℃ 到 600 ℃，三個數把鋁排成一條從亮到暗的序列，取值時先看表面有沒有氧化、氧化到什么程度。
黃銅鏡面取 0.03，測量溫度 28 ℃，氧化黃銅取 0.59 到 0.61，覆蓋 200 ℃ 到 600 ℃。完全生銹氧化銅取 0.66，測量溫度 22 ℃，銅與黃銅在光亮態下處在表上靠下的一檔，值比拋光鋁還低，按默認值設置時偏差也更大。
拋光鑄鐵取 0.21，測量溫度 200 ℃。加工鑄鐵取 0.44，測量溫度 20 ℃。完全生銹軋鐵板取 0.69，測量溫度 20 ℃，完全生銹鐵板取 0.80，測量溫度 25 ℃。完全生銹鑄鐵取 0.95，覆蓋 40 ℃ 到 250 ℃，鍍鋅亮鐵板取 0.23，測量溫度 28 ℃。鍍鋅這一項值得單獨記住，鍍鋅層是金屬鍍層，發射率仍停在 0.23 這一檔，按鐵去取會高出一大截。
黑亮漆噴在粗糙鐵上取 0.88，測量溫度 26 ℃。黑漆或白漆取 0.80 到 0.95，覆蓋 38 ℃ 到 90 ℃。平滑黑漆取 0.96 到 0.98。亮漆不論顏色取 0.90。非亮漆取 0.95。紙取 0.80 到 0.95，覆蓋 0 ℃ 到 100 ℃。不透明塑料取 0.95。亮瓷器取 0.92，測量溫度 23 ℃。電瓷取 0.90 到 0.92。軟硬橡膠取 0.95，測量溫度 20 ℃。水取 0.95 到 0.96。冰取 0.98。皮膚取 0.98。
這一檔整體落在 0.9 以上，與儀器常用的默認值接近：默認值之所以在非金屬上勉強可用，是因為這些材料的真實值原本在這個位置附近。
其一，先看狀態欄再看材料名，材料名只是索引。其二，溫度欄是這條數值的取得條件，不是它的適用范圍，超出該溫度時應注明是外推。其三，資料性附錄不能當判據，報告里要寫清取值的依據與校正方法。
拋光鋁或鋁箔 0.09，完全生銹鑄鐵 0.95，兩者相差十倍多，卻同屬金屬材料。金屬這一族內部的分化比金屬與非金屬之間的分化還要大，只按材料名取值必然出錯。
氧化程度、表面粗糙度、有無涂層或污穢，這三件事排下來基本定了檔位。氧化膜從無到厚，值可以從 0.1 抬到 0.9，粗糙度升高讓表面反復反射，值隨之上移。漆膜與污穢只要不含金屬粉，便把表面的輻射行為改寫成非金屬的。
含金屬粉的涂料是例外。鋁粉漆隨鋁粉含量增加，發射率反降到 0.3 到 0.65 這一段，看上去是漆，行為仍偏金屬。
先看顏色與光澤：亮銀色、能照出人影的面，取低檔。灰暗、無光澤、有銹跡的面，取中檔偏上，有漆膜或橡膠外套的面，取 0.9 以上。再看有沒有涂層記錄或廠家資料，有則優先采信，判斷不了時，按偏低的那一檔取，同時用實測手段校一遍。
儀器出廠常把發射率停在 0.95 或 0.90，這兩個數在非金屬上偏差只有一兩攝氏度，在亮金屬上能偏低幾十攝氏度。默認值不是錯值，它只是為非金屬準備的，遇到金屬必須改。
DL/T 664-2025 在術語那一章把相對溫差定義為兩同類設備相對應測點之間的溫升之差，與其中較高溫度點的溫升之比的百分數。溫升是測點溫度減環境溫度，展開來 δ 等于 T1 減 T2 除以 T1 減 T0，結果以百分數表示，式中 T1 是發熱點溫度，T2 是正常相對應點溫度，T0 是環境溫度。
取真值 T1 等于 80 ℃、T2 等于 40 ℃、T0 等于 25 ℃、兩點真實發射率同為 0.70。真實的 δ 是 72.7%。此時把儀器的發射率設成 0.95，T1 讀到 67.6 ℃，T2 讀到 36.2 ℃，算出的 δ 是 73.6%，只差 0.9 個百分點。
同一個設置錯誤讓溫度讀數偏低 12.4 ℃，卻幾乎沒動 δ，原因是 δ 是比值，分子分母同時被壓縮，比值基本保住。
換一個條件：發熱點因氧化重，真實發射率 0.80。正常相表面較新，真實發射率 0.50。儀器統一設 0.95。此時 T1 讀到 72.7 ℃，T2 讀到 33.2 ℃，δ 算得 82.9%，比真實的 72.7% 高出 10.2 個百分點。
十個百分點不是小數。δ 是判據的直接輸入，這個量級的偏移足以讓定級結論跨過一檔。
DL/T 664-2025 把判據放在兩個規范性附錄里，附錄 I 管外部通流類設備部件，附錄 J 管非外部通流類設備部件。判據不是一個通用的百分數門檻，而是按設備類型分別列出的表，用 δ 之前要先確認被測對象歸在哪一個附錄。
相對溫差法能壓住發射率偏差，前提是熱點與參考點同材質、同表面狀態、同一發射率設置、同一觀測條件。這四樣里壞掉一樣，上面那個十個百分點便會出現，發射率設錯毀掉的主要是表面溫度判據，不是 δ。δ 的免疫是有條件的，不能拿它去給粗糙的設置背書。
把一片已知發射率的膠帶或專用貼片貼到測點上，等它與被測面建立熱平衡，再用高發射率設置讀貼片區，讀到的便是被測面的真實溫度。隨后把測點移到旁邊的裸面上，反調發射率使讀數等于剛才那個值，此時的設定即該表面的實測發射率。
這一法的要點是熱平衡要等夠。薄膠帶在金屬上通常幾分鐘便夠，厚貼片與低導熱基材要更久。貼片本身的熱阻與導熱也會讓讀數略偏低，貼得越薄越準。
用熱電偶或接觸式點溫儀貼住測點，讀到一個接觸溫度，再調熱像儀的發射率使非接觸讀數與它相等。這一法直接、不需要額外材料，代價是要靠近帶電部位，且接觸點的溫度會受貼壓與散熱影響。
給被測件加負載或局部加熱，讓它升到另一個溫度，用前后兩組讀數反解。原理是同一個表面在兩種溫度下給出兩個方程，可以解出 ε 與背景溫度兩個未知量。這一法適合停機或可調負載的場合，帶電運行設備上很難實施。
在測點涂一小塊已知發射率的啞光漆，按漆的值讀該區溫度，即視為被測面溫度。這一法簡單，代價是改變了表面，且不適用于不允許涂裝的設備。
四種方法各有邊界：貼片法用得多，接觸法來得直接，加熱法要求能改工況，涂漆法改變表面。現場取不到實測值時，退一步也要在記錄里寫清取值的來源、表面狀態的描述，還要寫清背景溫度的取法，讓下一次復測有可比性。
GB/T 19870-2018《工業檢測型紅外熱像儀》在性能要求那一章給出，環境溫度在 23 ℃±5 ℃ 時，測溫的誤差允許上限不超過 ±2 ℃ 或被測溫度的 ±2%，取兩者中較大的。這是儀器在規定條件下對標稱值的約束，不是現場測得準不準的總賬。
噪聲等效溫差在環境溫度 23 ℃±5 ℃、相對孔徑為一時考核，高分辨率高靈敏度型小于 0.06 ℃，高靈敏度型小于 0.08 ℃，普通型小于 0.15 ℃。測溫一致性要求視場內不同區域的偏差不超過 ±2 ℃ 或視場中心區域測量值乘 ±2%，取兩者中較大的。可分辨溫差在零點五倍特征空間頻率下考核，高分辨率高靈敏度型小于 0.6 ℃，高靈敏度型小于 0.8 ℃，普通型小于 1.3 ℃。
這幾項管的是儀器自身的分辨能力與穩定程度，與被測表面是什么材料無關。
JJF 1187-2008《熱像儀校準規范》適用于測溫范圍 -20 ℃ 到 2000 ℃ 的熱像儀校準。它要求校準環境溫度 23 ℃±5 ℃、相對濕度不大于 85% RH，標準器用黑體輻射源：腔式黑體的空腔有效發射率為 0.99 到 1.00，允許偏差 ±0.01。面輻射源在 100 ℃ 以下的靶面有效發射率為 0.97，允許偏差 ±0.02。規范建議復校間隔為一年。
關鍵在黑體這兩個字：校準與檢定面對的是發射率接近一的標準源，那一項 ±2 ℃ 是在這個條件下取得的。
現場讀數與真值之差，包含儀器自身那一項，也包含發射率與背景溫度那一項。前者有出廠指標與校準證書可查，后者只存在于作業方法里。把這兩項混在一起說儀器不準，會讓人去換儀器。分開算，才知道該改的是設置。
在低發射率表面上，這一項可以單獨到幾十攝氏度，在高發射率表面上，若設定值與真實值相差不超過 0.05，通常落在三攝氏度以內。它隨材料突變，方向也確定，其余幾項都不具備這兩條。
權重是一減發射率。發射率 0.30 的外殼上，背景溫度每錯十攝氏度，讀數能錯出二十攝氏度上下。發射率 0.90 以上的表面上，同樣錯十攝氏度只帶來一攝氏度上下。這一項與發射率項同源，治理辦法也一樣。
GB/T 19870-2018 給的誤差允許上限是 ±2 ℃ 或 ±2%，測溫一致性再給一個 ±2 ℃ 量級，環境溫度影響要求變化量不大于 2 ℃ 或測量值乘 2%，取兩者中較大的。這幾項合起來仍處在攝氏度量級。
目標與儀器之間那段大氣既衰減又自發光，距離越遠、濕度越大，這一項越大。電力巡檢常在幾米到十幾米上作業，這一項通常遠小于前兩項，遠距離或高濕環境下的測量要把它單獨估一遍。
目標若填不滿像元視場，讀數會被背景稀釋：空間分辨力 0.66 mrad 的鏡頭在十米距離上對應的可分辨尺寸約 6.6 mm，比這更小的目標測出來必然偏低。這一項與發射率無關，卻同樣表現為讀數偏低，排查時要能分開。
排序很清楚：高發射率表面上，儀器項與空間分辨力項排在前頭。低發射率目標上，發射率項與背景溫度項壓倒其余。現場把精力投在哪一項，取決于被測面是金屬還是非金屬。
對電瓷、橡膠、塑料、漆面這類非金屬可以，偏差通常一兩攝氏度。對金屬不行。拋光鋁在 80 ℃ 上按 0.95 設置，讀數會偏低 48.6 ℃，凡是亮金屬面、鍍鋅面、鋁排、鋁外殼，都要單獨設，且設完之后要用貼片或接觸法校一遍。
先看光澤。能映出輪廓的面取低檔，落在 0.1 到 0.3 這一段。灰暗無光的氧化面取中檔，落在 0.4 到 0.7。有漆膜、橡膠外套或厚銹層的取高值，取 0.9 以上，再看設備檔案里的材質與涂裝記錄，有記錄以記錄為準。兩頭都不靠時取低檔，再用實測校正。
兩個都要寫。報告里應給出測點的表面溫度或經過校正的溫度，同時注明該值是按哪一種方法取得的、校正前的直讀值是多少，當時設定的發射率、背景溫度又是多少。只寫一個溫度而不寫取得方法，下一次復測的人無法復現，趨勢隨之斷掉。
要，但先看兩點是否同材質。若兩者是同類設備的對應部位，材質相同、表面狀態一致，δ 對發射率偏差基本免疫，可以不用回改；若兩點材質或氧化程度不同，δ 會被拉高十個百分點上下，此時必須把兩點的發射率分別定準再算。
先查發射率與背景溫度這兩項設置是否一致，再查距離與角度，末了才比對儀器本身。兩臺儀器的出廠指標都在 ±2 ℃ 量級，若差值到了十幾攝氏度，問題幾乎不會出在儀器上，而出在設置與測點選擇上。
發射率這一項的特別之處在于，它把誤差的方向也定死了。儀器自身那幾項誤差是雙向的、隨機的，多次測量能壓下去，而發射率設錯的偏差是單向的、系統的，測多少次都壓不掉。設高了讀數一律偏低，偏低的量隨被測溫度上升而放大，于是一批本該報缺的熱點會一起沉進正常區間。
治理它的辦法不在儀器上，在作業方法上。查表只能定起點，真正起作用的是現場那一步校正：貼片法、接觸比對法、加熱法、涂漆法，任選一種把值落到這一個測點上。背景溫度要一并實測，它在低發射率目標上的權重并不比發射率小。
相對溫差法能壓住這一類偏差，但它壓住的前提是熱點與參考點同材質、同表面狀態、同一設置。前提守住，δ 幾乎不動。前提破了，δ 能失真十個百分點，發射率設錯毀的主要是表面溫度判據，可一旦兩點材質不同，δ 也一起失真。
末了回到儀器這一側。GB/T 19870-2018 給出的誤差允許上限是 ±2 ℃ 或 ±2%，這個值是在黑體源上、在 23 ℃±5 ℃ 的環境里取得的，它管的是儀器，管不了被測表面。把這兩筆賬分開，才知道該換設備還是該改設置。北京康高特（KGT）陽明紅外熱像儀的波段覆蓋 7.5 μm 到 14 μm，與標準推薦的長波范圍一致，測溫精度標為 ±2 ℃ 或 ±2% 讀數，標準鏡頭空間分辨力 0.66 mrad，配三種視場鏡頭可選。儀器把自身那一項壓到了攝氏度量級，剩下的那一部分，交給現場的設置與記錄。
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