手持式微歐計(jì)在高壓開(kāi)關(guān)柜回路電阻測(cè)試中的使用方法
高壓開(kāi)關(guān)柜是輸配電系統(tǒng)中承擔(dān)電能分配、故障隔離、線路保護(hù)的核心一次設(shè)備,設(shè)備導(dǎo)電回路接觸不良、回路電阻超標(biāo),會(huì)直接造成觸頭運(yùn)行溫升異常升高、絕緣部件老化加速,嚴(yán)重時(shí)引發(fā)絕緣擊穿、柜體閃絡(luò),甚至開(kāi)關(guān)柜燒毀、爆炸等惡性電力事故。國(guó)內(nèi)高壓開(kāi)關(guān)柜的長(zhǎng)期運(yùn)維統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)顯示,在發(fā)熱、跳閘、絕緣擊穿三類典型故障中,由導(dǎo)電回路接觸不良、回路電阻超標(biāo)直接誘發(fā)的故障占比約為45%,是占比*的單一故障誘因。這類隱患大多源于觸頭表面氧化污損、機(jī)械機(jī)構(gòu)壓力不足、連接導(dǎo)體松動(dòng)等問(wèn)題,可通過(guò)大電流回路電阻測(cè)試提前檢出,避免發(fā)展為惡性停電事故。
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